SM-Pen膜厚计新品简介｜笔式探头凭什么叫板常规膜厚计？

更新时间：2026-08-03

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#2026年新品发布会#

日期：2026年8月3日

时间：8：30-18：30

近期我司新推出升级了

SANKO三高 SM-Pen 电磁式膜厚计

SANKO三高 SM-Pen 笔式电磁模拟膜厚计新品发布，一款让不少质检工程师反复确认的型号：它采用笔式探头设计，凭什么敢叫板那些体积庞大的常规膜厚计？凭什么能解决常规膜厚计无法触及的测量难题？答案藏在SANKO三高对特殊探头设计与电磁测量技术的深度整合中。

常规膜厚计探头——体积大，无法进入小零件表面和狭小空间进行测量；只能在平面或开阔表面进行涂层厚度检测。SM-Pen探头——采用笔式设计，顶端配备超细磁极；CVD磁极直径仅φ2.6mm，长度4.5mm；探头尺寸φ11×130mm；磁极可安装在伸缩自由的手柄上。

SM-Pen测量范围0至300μm和0至5mm（两排刻度），精度±2μm或指示值的±5%。可测量小零件和狭小空间，也可测量细管道（φ32mm以上）的内壁涂层。机身尺寸105×48×165mm，重量500g。SANKO三高 SM-Pen——用笔式探头与超细磁极的巧妙设计，重新定义了特殊场景涂层测厚的可能性。