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XIM-05C450K 属于日本 CCS XIM 系列微型同轴环形一体光源,集成同轴落射 + 低角度环形双光路,专为微小元器件、芯片引脚、微型工件微距视觉检测开发,自带基础偏振光学层,抑制微型镜面反光,北崎国际贸易为原装正规授权代理。
SERIC索莱克 人工照明仪 呼和浩特
复合双光路结构
中心垂直同轴落射光:捕捉微小平面划痕、脏点、字符;
外圈 45° 低角度斜射环形光:凸显微小凹凸、引脚毛刺、浅刻印;
一套光源同时实现同轴 + 低角度两种照明效果,无需更换工装。
发光光谱:450nm 短波蓝光,对透明塑胶、硅晶圆、透明薄膜杂质对比度提升显著,可过滤环境杂光干扰。
光学配置:机身内置 C 系列起偏偏振片,中等反光微型金属、硅片可直接弱化镜面高光;超高抛光工件可搭配外置检偏滤镜实现正交消反光。
供电标准:DC24V 工业直流供电,全系列兼容 CCS PDD、PSB 光源控制器,支持无级调光、外部信号同步触发。
机身结构:超小型紧凑铝合金防尘壳体,微型法兰标准接口,直接锁附 0.5 倍微距镜头、小型 C 口显微镜头前端,不占用狭小检测工位空间。
安装规格:标准镜头前置卡扣式安装,机身预留 M3 固定螺孔,适配台式显微镜、微型自动化检测治具。
SERIC索莱克 人工照明仪 呼和浩特
同轴 + 低角度二合一复合光路,微型工件一站式检测
区别单独同轴 / 单独环形光源,XIM-05C450K 中心同轴光检测平面瑕疵,外圈斜射光凸显凹凸毛刺,一套光源满足平面 + 轮廓两类缺陷检测,减少设备换型、简化产线工装。
450nm 短波蓝光,透明 / 半导体工件缺陷增强
短波蓝光穿透力适中,透明塑胶、硅片、薄膜内部微小颗粒、裂纹成像对比度远高于白光 / 红光,可过滤车间环境白光杂光干扰,提升算法识别稳定性。
内置 C 偏振层,微型镜面工件基础消眩光
一体集成起偏光学膜,芯片焊盘、微型金属端子、抛光硅片定向镜面反光被大幅弱化,微米级划痕、氧化污点清晰显现,无需额外加装滤镜,缩小微型工装体积。
微型超紧凑机身,适配狭小微距检测工位
整体外径尺寸小巧,专为 0.5 倍微距镜头配套设计,可嵌入台式显微镜、微型自动化拾取检测工位,不干涉微小物料输送轨迹。